明升国际

半導體測試板

Load Board

Load Board

測試負載板是一種連接測試設備與被測器件的機械及電路接口，主要應用在半導...

probe card

probe card

探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad，通常作為Loadboard的物理接口...

BIB

BIB

BIB（BURN IN BOARD，老化測試），完成封裝測試的IC在特定的工況和時間內老化測試...

Interposer

Interposer

Probe card 的信號通過interposer中介層的轉換讓Probe head（探針頭）的探針可以接收到信號...

<dir id='bwdke'><del id='bwdke'><del id='bwdke'></del><pre id='bwdke'><pre id='bwdke'><option id='bwdke'><address id='bwdke'></address><bdo id='bwdke'><tr id='bwdke'><acronym id='bwdke'><pre id='bwdke'></pre></acronym><div id='bwdke'></div></tr></bdo></option></pre><small id='bwdke'><address id='bwdke'><u id='bwdke'><legend id='bwdke'><option id='bwdke'><abbr id='bwdke'></abbr><li id='bwdke'><pre id='bwdke'></pre></li></option></legend><select id='bwdke'></select></u></address></small></pre></del><sup id='bwdke'></sup><blockquote id='bwdke'><dt id='bwdke'></dt></blockquote><blockquote id='bwdke'></blockquote></dir><tt id='bwdke'></tt><u id='bwdke'><tt id='bwdke'><form id='bwdke'></form></tt><td id='bwdke'><dt id='bwdke'></dt></td></u>

<code id='bwdke'><i id='bwdke'><q id='bwdke'><legend id='bwdke'><pre id='bwdke'><style id='bwdke'><acronym id='bwdke'><i id='bwdke'><form id='bwdke'><option id='bwdke'><center id='bwdke'></center></option></form></i></acronym></style><tt id='bwdke'></tt></pre></legend></q></i></code><center id='bwdke'></center>

<dd id='bwdke'></dd>

<style id='bwdke'></style><sub id='bwdke'><dfn id='bwdke'><abbr id='bwdke'><big id='bwdke'><bdo id='bwdke'></bdo></big></abbr></dfn></sub>_{<dir id='bwdke'></dir>}